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常規(guī)的涂層測厚儀選型方法

發(fā)布日期:2022-05-31 瀏覽次數(shù):112

  在相關國家和國際標準中,保護材料表面和裝飾形成的覆蓋層,如涂層、涂層、涂層、貼層、化學成膜等。

常規(guī)的涂層測厚儀選型方法

  復合層厚度測量已成為加工業(yè)和表面工程質(zhì)量測試的重要組成部分,是產(chǎn)品達到優(yōu)良質(zhì)量標準的必要手段。為了使產(chǎn)品國際化,中國的出口商品和外國項目對復合層的厚度有明確的要求。

  復合層厚度的測量方法主要包括:楔形切割法、光截面法、電解法、厚度差測量法、稱重法、x射線熒光法、β射線反向散射法、電容法、磁性測量法、渦流測量法等。前五種方法是檢測,測量手段繁瑣,速度慢,更適合抽樣檢測。

  X射線和β射線法是無接觸和無損的測量方法,但設備復雜且昂貴,測量范圍較小。由于有放射源,用戶必須遵守射線保護規(guī)范。X射線法可以測量極薄涂層、雙涂層和合金涂層。β射線法適用于基材原子序列號大于3的涂層測量。電容法僅用于測量薄導體絕緣層的厚度。

  隨著技術(shù)的不斷進步,特別是近年來微機技術(shù)的引入,磁性法和渦流法的測厚儀向微型、智能、多功能、高精度、實用的方向邁進了一步。測量分辨率達到0.1微米,精度可達1%,大大提高。它是工業(yè)和科學研究中應用最廣泛的測厚儀器,適用范圍廣,測量范圍廣,操作簡單,價格低廉。

  采用無損法既不破壞覆層也不破壞基材,檢測速度快,能使大量檢測工作經(jīng)濟地進行。

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